YELO的Y1000L老化与寿命测试系统是用于测试1A以下的小功率半导体激光器的可靠性。其模块化的设计意味着单个机柜至多可以同时测试2048个器件。当然，用户也可根据实际需要灵活配置使其适用于大量生产以及小量研发等不同环境。 老化 我们的系统可同时对所有装载好的激光器器件进行老化压力测试。所得到的数据可用来筛选出不合格的产品，避免其流入终端用户市场。 寿命测试 我们的系统可以用于对某批样本激光器产品进行寿命测试，得到的数据可以为激光器生产商改善产品的长期可靠性提供必要的依据。 功能测试 在老化测试过程中，系统可以通过软件内预先设定的程序自动测试监控某些用户指定的功能参数，来实现老化前后测 试对象特性变化的比较。 这些参数通常包括： • 阈值电流 (Ith) • 线性关系 • 波长 • 边模抑制比